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德尔发购进日本激光干涉仪

2008-10-15浏览量:154

德尔发采用日本进口富士能激光干涉仪进行测量,该干涉仪以中心波长635nm的半导体激光器为光源,可测量口径30mm以下的平面(平面系统)以及透镜(球面系统)等的面精度。

 

此激光干涉仪采用小型化设计,有测量方法简单和测量精度高等特点,优化了德尔发的质检系统,并有助于提高产品的质量。


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