首页 > 新闻中心

德尔发购进日本激光干涉仪

发布时间:2009/12/09

  德尔发采用日本进口富士能激光干涉仪进行测量,该干涉仪以中心波长635nm的半导体激光器为光源,

可测量口径30mm以下的平面(平面系统)以及透镜(球面系统)等的面精度。

 

  此激光干涉仪采用小型化设计,有测量方法简单和测量精度高等特点,优化了德尔发的质检系统,并有

助于提高产品的质量。